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X射线荧光法测定高碳铬铁中的Cr、Si、P
X射线荧光法 高碳铬铁合金 铬
2009/3/2
应用X射线荧光光谱法测定高碳铬铁中的Cr、Si、P等元素的含量。通过选择合适的制样条件，确定仪器最佳参数，建立工作曲线，对高碳铬铁合金进行测定。结果证明，本法快速、准确、灵敏度高，能满足生产需要。