搜索结果: 1-3 共查到“国际动态 半导体测试技术”相关记录3条 . 查询时间(1.874 秒)
国外开发出可使用多种中子源的半导体软错误率评估方法
中子源 半导体 软错误率
2023/8/21
由日本京都大学科研人员负责的产学协同软错误研究团队，开发了一种可使用不同中子源获取半导体软错误率的方法。
人类拍摄到半导体材料内部电子运动
人类 拍摄 半导体材料 电子运动
2016/10/14
英国《自然·纳米技术》杂志10月11日在线发表论文称，科学家们利用飞秒技术首次成功拍摄到半导体材料内部电子状态变化。该成果将提供对半导体核心器件前所未有的洞察。自20世纪后期以来，半导体器件技术进步集中且明显，譬如晶体管、二极管以及太阳能电池等。这些器件的核心，正是电子在半导体材料中进行的内部运动，然而，由于电子的速度极快，测量电子运动是一个重大难题。一直到2008年，瑞典科学家才运用具有超短和超...
美国中研究者合作开发出验血查胎儿缺陷新法
美国 验血查胎儿 半导体芯片
2014/5/7
美国和中国研究人员2014年5月5日在美国《国家科学院学报》上报告说，他们开发出一种基于半导体芯片测序仪的无创产前诊断方法，可以根据孕妇血样检测出胎儿是否患唐氏综合征等与染色体异常有关的先天缺陷。