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原位XPS技术研究碳化铀的表面氧化     原位XPS  UC  O2 O2         2007/12/25
摘要 采用X射线光电子能谱(XPS)原位分析研究了298 K时烧结UC的清洁表面在O2气氛中的初始氧化过程. UC试样清洁表面通过氩离子束长时间溅射获取. 初始反应各阶段U4f, O1s和C1s芯能级谱的变化显示样品表面的氧化产物为UO2和自由碳. 当O2饱和吸附后, UC表面氧化膜的增长呈抛物线型, 氧透过氧化膜的扩散为UC进一步氧化的速率控制步骤. 定量分析表明, 反应过程中U, C原子均未出...

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